1. Skip to Menu
  2. Skip to Content
  3. Skip to Footer>

ГЛАВНАЯ   НОВОСТИ   КОНТАКТЫ   ВАКАНСИИ   ИНТЕРНЕТ-МАГАЗИН  СТАРТ                                                                                   

Электрический контроль

X-Y Установка внутрисхемного электроконтроля HIOKI СЕРИИ 1240 HITESTERЭти скоростные, высокоточные, надежные и популярные системы тестирования плат «летающими» пробниками идеально подходят для производств с широкой номенклатурой изделий и малой серией. Метод четырехконтактного тестирования помогает определить как приподнятые выводы микросхем, так и плохо припаянные выводы, «холодную» пайку.

Возможности системы обеспечивают активное внутрисхемное тестирование FETs, реле, трехконтактных регуляторов напряжения; возможности системы настолько широкие, что даст фору любой другой системе и ставит под вопрос их тестовые возможности.

Данная платформа разработана для обеспечения гибкости производства и последующего расширения возможностей системы.

Идеально подходит для определения припаянных выводов микросхем, качества пайки и определения холодной пайки.

Установка электротестирования HIOKI 1240Высокий уровень определения дефектов

Определение плохих контактов выводов микросхем. 1240 производит высокоточные измерения контактного сопротивления между выводами микросхем и контактной площадкой с использованием 4-х контактного метода замера сопротивления и сравнения с данными в базе по хорошему контакту. Использование электрического метода определения обеспечивает высокую повторяемость.

Высокопроизводительная измерительная система HIOKI 1220 HITESTERУвеличение производительности вашей тестовой системы с помощью мощной восокопроизводительной измерительной системы 1220 HiTester.

Разрабатывая и производя высокоточные надежные измерительные и тестовые устройства компания HIOKI разработала новый измерительный комплекс объединивший в себе различные устройства.

Замена внутрисхемного тестирования или применение системы 1220, как программируемого многоканального измерительного комплекса.